本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和。

    為適應大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，別是計算機芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前，在美、德等的業(yè)家，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美ASTM 《“F391-77”關于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而步判斷半導體材料的性能，導和監(jiān)視操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量度、穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便、型美觀等點。也可以配四探針測試頭作常規(guī)的四探針法測量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三分，儀表電氣控制箱由靈敏度直數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定度恒源和電氣控制分組成。測量結果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定、輸入阻抗，并設有自校能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數(shù)修正能，從面板輸入相應的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，型美觀，可以方便地固定好大小意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步測量，也可以自由選擇固定位置測量，電活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量度、游移率小、耐磨、使用壽命長點。同時探頭壓力恒定并且可調(diào)整，以適合不同的材料。