表面測(cè)厚儀的影響因素以及使用規(guī)定

測(cè)量原理

　　. 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀

　　磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可行測(cè)量。鑒于大多數(shù)業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)成這記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。

　　這種儀器的點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車(chē)間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制

　　使用規(guī)定

　　a 基體金屬性

　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法行校準(zhǔn)。

　　c 邊緣效應(yīng)

　　不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測(cè)量。

　　d 曲率

　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

　　e 讀數(shù)次數(shù)

　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此須在每測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異，也要求在給定的面積內(nèi)行多次測(cè)量，表面粗時(shí)更應(yīng)如此。

　　f 表面清潔度

　　測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去何覆蓋層物質(zhì)

　　涂層測(cè)厚儀中F，N以及FN的區(qū)別:

　　F代表ferrous 鐵磁性基體，F型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來(lái)測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

　　N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理;來(lái)測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

　　FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理，又采用采用電渦流原理，是F型和N型的二合型涂層測(cè)厚儀。

　　 影響因素

　　有關(guān)說(shuō)明

　　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件行校準(zhǔn)。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn)。

　　c 基體金屬厚度

　　每種儀器都有個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處行測(cè)量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)